顆粒粒度指顆粒的大小。通常球體顆粒的粒度用直徑表示，立方體顆粒的粒度用邊長(cháng)表示。對不規則的礦物顆粒，可將與礦物顆粒有相同行為的某一球體直徑作為該顆粒的等效直徑。有時(shí)候，在描述粉塵顆粒大小的時(shí)候也會(huì )用到。

利用梅特勒XP精密天平檢測顆粒粒度，需要配備篩分易巧稱(chēng)量組件。梅特勒篩分易巧稱(chēng)量組件，是將樣品篩固定在天平稱(chēng)量臺上，以方便顆粒物稱(chēng)量的輔件。用戶(hù)使用組件將樣品篩固定在天平稱(chēng)量臺后，只需輕點(diǎn)觸摸屏上的One Click? ,即可啟用一鍵稱(chēng)量篩分分析解決方案，根據屏幕提示步驟，樣品篩可逐步稱(chēng)量。

梅特勒電子天平用于顆粒粒度檢測步驟如下：

    1、一鍵啟動(dòng)任務(wù)，固定樣品篩正確位置并自動(dòng)稱(chēng)量所有空篩。

    2、篩分，篩分震動(dòng)器對樣品篩進(jìn)行篩分并完成樣品稱(chēng)量。

    3、回稱(chēng)，系統提示下一步篩分并顯示每個(gè)樣品篩的質(zhì)量。

    4、結果，顯示顆粒粒度分布百分比。

    5、記錄存檔，存儲數據，可隨時(shí)打印符合GLP結果報告。