梅特勒天平作為實(shí)驗室常用基礎儀器，其作用主要是稱(chēng)量物體質(zhì)量，想要實(shí)驗結果更加準確可靠，實(shí)驗中樣品的量必須準確。為了保證實(shí)驗結果的準確性，必須保證梅特勒電子天平測量的準確度，在使用前或測量環(huán)境改變后都要進(jìn)行校準操作。下面，我們就來(lái)看看梅特勒電子天平如何校準。

   梅特勒電子天平有內校和外校兩種校準方式。

 1.  內校：內校型梅特勒天平使用方便，但價(jià)格稍高。校準時(shí)只需長(cháng)按CAL鍵就可以完成校準過(guò)程。內校型電子天平如梅特勒型分析天平（AB-S/FACT系列），如圖1.

        特勒型分析天平（AB-S/FACT系列）
 2. 外校：外校型梅特勒天平對砝碼要求較高，砝碼有灰塵、磨損時(shí)都會(huì )對校準結果產(chǎn)生影響。校準時(shí)先按CAL鍵，直到顯示屏上顯示CAL-,再把標準砝碼放入天平秤盤(pán)上，完成校準過(guò)程。例如，顯示屏出現CAL-100時(shí)，把 100g標準砝碼放入稱(chēng)盤(pán)，隨后顯示屏出現“----”等待狀態(tài)，當顯示屏出現100.000g時(shí)，取走標準砝碼，此時(shí)顯示屏應顯示0.000g,若讀數 不為零，則清零后再次進(jìn)行校準操作以完成校準過(guò)程。外校型梅特勒天平如梅特勒XP超越系列分析天平，如圖2.

          梅特勒XP超越系列分析天平
    需要注意的是，梅特勒電子天平的準確度和內校、外校沒(méi)有直接的關(guān)系，還應綜合考慮其它技術(shù)指標來(lái)選購合適的梅特勒電子天平。